産品分(fēn)類
特點:
Micro OLED離線光(guāng)學(xué)測試系統,0.2-3inch;
自(zì)動(dòng)運動(dòng)控制(zhì);
手動(dòng)産品上下料,自(zì)動(dòng)對(duì)位,手動(dòng)壓接、自(zì)動(dòng)測試;
采用快速多(duō)功能(néng)夾具,支持多(duō)種型号産品,快速切換;
多(duō)儀器搭載,支持AOI與光(guāng)學(xué);
支持不同溫度點gamma調整,燒錄;
支持wafer 點線面缺陷測試,光(guāng)學(xué)特性測試;
支持不同尺寸TEG片開發階段測試;
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項目 |
規格 |
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尺寸 |
長(cháng)*寬*高:1.98m*2.08m*2.00m |
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測試樣品大小 |
0.39inch~3inch,8”&12”wafer |
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彩色分(fēn)析儀 |
CA402,探頭測量口徑約2 mm。探頭采用專用的(de)光(guāng)學(xué)系統與算法,确保在(zài)超低亮度與小尺寸測量的(de)條件(jiàn)下仍可(kě)準确測量 |
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相(xiàng)機 |
1、AOI相(xiàng)機4300萬,高分(fēn)辨率CCD。 |
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運動(dòng)系統 |
采用高精度伺服電(diàn)機,高精度滾珠螺杆, |
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功能(néng) |
色度、亮度、均勻性、、光(guāng)譜測試等 支持:點、線、面缺陷測試,Mura測試。 |
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信号 |
支持特儀制(zhì)制(zhì)型号機以及市面通(tōng)用品牌信号機,支持客制(zhì)化化信号,信号格式:TTL/LVDS/MIPI/HDMI/edp/2K&4K&8K等 |
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電(diàn)源 |
支持高精度多(duō)路直流電(diàn)源輸出,以及客制(zhì)化電(diàn)源需求。 |
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軟件(jiàn) |
特儀自(zì)主開發之軟件(jiàn),全中(zhōng)文版,C#編程模塊化,操作(zuò)簡單,UI界面可(kě)依據客戶需求進行(xíng)定制(zhì),軟件(jiàn)自(zì)帶各标準測試手法,可(kě)以通(tōng)過直接調用模式進行(xíng)測試。 |
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